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日立高新SU9000超高分辨率场发射扫描电子显微镜
/ BSE/ STEM信号。日立2011年新推出了SU9000超高分辨冷场发射扫描电镜,达到扫描电镜世界zei高二次电子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。日立SU9000采取了全新改进的
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SUPRA™超高分辨率场发射扫描电子显微镜
的场发射扫描电子显微镜。具有当前zei先进的仪器所具有的所有特征:如在图像质量一流时的超高分辨率、工作电压切换方便、出色的束流稳定性、全分析型样品室、通过基于Windows® XP的SmartSEM
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日立高新SU7000超高分辨率肖基特场发射扫描电子显微镜
项目内容图像分辨率二次电子分辨率0.8 nm/15 kV0.9 nm/1 kV放大倍率20~2,000,000 x电子枪发射体ZrO/W热场发射(肖特基热场发射)加速电压0.1~30 kV
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蔡司SUPRA™40超高分辨率场发射扫描电子显微镜
,2.0nm@30kV(VP模式) 放大倍数:12 - 900,000x 加速电压:0.02 - 30kV 束流:4 pA - 10 nA(可选配20 nA) 电子枪:热场发射型 VP真空度:2
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日立高新Regulus系列场发射扫描电子显微镜
设备用途:高分辨的场发射扫描电镜主要用于观察和分析材料的微观形貌,在超低电压下,依然保持极高的分辨能力;并且搭配能谱仪可以对材料同一微区进行形貌、成分分析。3技术规格:3.1电子光学系统(SEM
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蔡司MERLIN Compact超高分辨率场发射扫描电镜
。在SUPRA™场发射扫描电子显微镜基础上发展起来的MERLIN Compact 场发射扫描电子显微镜是用于纳米结构分析的电子束成像仪器中的佼佼者,它接收效率高、可以超高分辨率成像。zei新开发的
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日立高新SU8200系列场发射扫描电子显微镜
)实现多种材料对比度可视化) 日立高新场发射扫描电子显微镜SU8200系列(HITACHI UHR FE-SEM SU8200 Series,SU8220,SU8230,SU8240)采用日立
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FEI Nova NanoSEM x30超高分辨率场发射扫描电子显微镜
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日立高新SU-70 超高分辨率分析扫描电子显微镜
场发射扫描电子显微镜SU-70 是一种新概念扫描电子显微镜。 日立高新分析超高分辨率肖特基热场发射扫描电子显微镜SU-70采用了日立经过实地验证的 “semi-in-lens”超高分辨率技术以及
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蔡司GeminiSEM 500/300超高分辨率场发射扫描电镜
操作系统,可选鼠标、键盘、控制面板控制 zei高的分辨率 蔡司 GeminiSEM 系列 用于任意样品进行亚纳米级低电压成像的场发射扫描电子显微镜GeminiSEM 系列产品能够轻松实现亚纳米
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